BF正版 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析第2版 新华书店畅销图书书籍 计算机与互联网 单片机与嵌入式 武晔卿,王广辉,彭耀光.
- 产品名称:嵌入式系统可靠性设计技术...
- 是否是套装:否
- 书名:嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析(第2版)
- 定价:39.00元
- 出版社名称:北京航空航天大学出版社
- 出版时间:2015年11月
- 作者:武晔卿王广辉彭耀光
- 开本:16开
- 书名:嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析(第2版)
基本信息
书名:嵌入式系统-可靠性设计技术及案例解析-第2版
定价：(咨询特价)
作者:武晔卿，王广辉，彭耀光 著
出版社：北京航空航天大学出版社
出版日期：2015-(咨询特价)
ISBN(咨询特价)
字数：
页码：
版次：1
装帧：平装
开本：16开
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内容提要
《嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析（第2版）》介绍了嵌入式系统设计中，哪些地方最可能带来可靠性隐患，以及从设计上如何进行预防。内容括：启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法；降额参数和降额因子的选择方法；风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范；PCB板布线布局、系统结构的电磁兼容措施；电子产品制造过程中的失效因素(括EOS、ESD、MSD等)及预防、检验方法；可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。同时，针对相关内容进行实际的案例分析，以使读者更好地掌握这些知识。与第１版相比，本书对嵌入式软件可靠性设计规范章节进行了重新编写，并修订了第１版中的疏漏和错误之处。
本书适用于交通控制、电力电子、消费电子、医疗电子、控制电子、军工产品等以电子、机电一体化为主体内容的相关技术领域，既可作为工程技术人员的技术参考书，也可作为相关专业的高
年级本科生、研究生、教师的设计参考书。
文摘
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作者介绍
武晔卿，
工学硕士，瑞迪航科(北京)技术有限公，技术总监，专注于电子可靠性设计和测试技术。
王广辉，
工学学士，航天23所资深嵌入式系统副主任调试师，专注于嵌入式系统调试、可靠性分析、实验和制造工艺技术的研究。
彭耀光，
电子工程师，中北大学，专注于嵌入式软硬件系统可靠性设计与测试技术的研究。
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